Wydawnictwa uniwersytetu warszawskiego Warstwy nanokompozytowe węglowo-palladowey

Tytuł Warstwy nanokompozytowe węglowo-palladowe Podtytuł Badania i technika Język polski Wydawnictwo Wydawnictwa Uniwersytetu Warszawskiego ISBN 978-83-235-1664-4 seria Świat Nanotechnologii Rok wydania 2014 Warszawa Wydanie 1 liczba stron 235 Format pdf Spis treści Rozdział 1. Wstęp – Elżbieta Czerwosz 9 Rozdział 2. Metoda PVD otrzymywania warstw C–Pd – Elżbieta Czerwosz, Joanna Rymarczyk 13 Rozdział 3. Metoda CVD otrzymywania warstw C–Pd – Ewa Kowalska, Kamil Sobczak 24 3.1. Charakterystyka procesu CVD 25 3.2. Modyfikacja warstw C–Pd przy pomocy procesu CVD 27 3.3. Optymalizacja parametrów technicznych cyklu CVD 30 3.3.1. Wariant podłoża 30 3.3.2. Szybkość dostarczania reagentów w procesie CVD 33 3.3.3. Temperatura procesu CVD 34 3.3.4. Czas trwania procesu CVD 37 3.3.5. Ciśnienie cyklu CVD 41 3.4. Wnioski 41 Wybrana literatura 42 Rozdział 4. Synteza spaleniowa nanowłókien SiC – Michał Soszyński 44 Wybrana literatura 52 Rozdział 5. Technika wytwarzania warstw DLC i DLC/C–Pd – Aleksander Werbowy, Piotr Firek, Mirosław Kozłowski, Jan Szmidt 54 5.1. Przygotowanie powierzchni podłoży do nakładania warstw DLC 57 5.2. Nanoszenie warstw DLC 59 5.3. Układ warstw DLC/C–Pd 61 Wybrana literatura 62 Rozdział 6. Technika i parametry kontaktów i mikropołączeń do warstw C–Pd – Piotr Firek. Jerzy Kalenik, Jan Szmidt 64 6.1. Wytwarzanie warstw metali na zapotrzebowania kontaktów elektrycznych 64 6.2. Wpływ parametrów osadzania warstw kontaktowych na ich grubość i chropowatość 65 6.3. Pomiary rezystywności 69 6.4. Metody wytwarzania mikropołączeń drutowych 70 6.5. Solidność produkowanych mikropołączeń 72 Wybrana literatura 74 Rozdział 7. Badania parametryczne otrzymywania nanowłókien SiC – Michał Soszyński 75 7.1. Układ eksperymentalny 76 7.2. Reakcja spaleniowa 77 7.3. Charakterystyka artykułu 80 7.4. Wpływ parametrów na wydajność syntezy spaleniowej 82 7.4.1. Atmosfera spalania 82 7.4.2. Skład substratów 86 7.4.3. Reagenty odpadowe, rozszerzanie skali procesu 87 7.5. Przygotowanie NWSiC jako podłoża do czujników pracujących w warunkach ponadnormatywnych 89 Wybrana literatura 90 Rozdział 8. Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na transparentnych powłokach C–Pd – Ryszard Diduszko 92 8.1. Podstawy metody XRD 92 8.2. Matryca węglowa – struktury klarowne i obrazy dyfrakcyjne różnych odmian materiałów węglowych 94 8.3. Dyfraktogramy octanu palladu (substratu) i srebrnego palladu 98 8.4. Dyfraktogramy warstw C–Pd 99 Wybrana literatura 103 Rozdział 9. Skaningowa mikroskopia elektronowa warstw C–Pd – Mirosław Kozłowski 104 9.1. Budowa skaningowego mikroskopu elektronowego 104 9.2. Podstawowe sygnały stosowane w SEM 106 9.3. Aparatura 115 9.4. Preparatyka 118 Wybrana literatura 120 Rozdział 10. Transmisyjna mikroskopia elektronowa warstw C–Pd – Piotr Dłużewski 122 10.1. Przygotowanie preparatów 132 Wybrana literatura 135 Rozdział 11. Spektroskopia w podczerwieni z transformacją Fouriera warstw C–Pd – Anna Kamińska, Mirosław Płaza 136 11.1. Podstawy spektroskopii w podczerwieni 136 11.2. Budowa i zasada działania spektrometrów FTIR 138 11.3. Spektroskopia transmisyjna w zakresie podczerwieni 140 11.4. Badania ATR 141 11.5. Zastosowanie spektroskopii FTIR do badań warstw C–Pd w obecności wodoru 146 Wybrana literatura 149 Rozdział 12. Spektroskopia ramanowska warstw C–Pd – Małgorzata Suchańska, Justyna Kęczkowska, Radosław Belka 150 12.1. Spektroskopia ramanowska materiałów węglowych 153 12.2. Analiza widm 160 Wybrana literatura 162 Rozdział 13. Badania korelacji mikrostruktury i atrybuty optycznych warstw C–Pd, a także alternatywnych struktur SiO –Pd pokrytych warstwami dielektrycznymi – Bartłomiej Witkowski, Sylwia Gierałtowska, Łukasz Wachnicki, Marek Godlewski 164 13.1. Struktury SiO2 – Pd pokryte warstwą HfO₂ 172 13.2. Struktury SiO2 – Pd pokryte powłoką TiO₂ 173 13.3 Struktury SiO2 – Pd pokryte powłoką ZrO₂ 174 13.4. Podsumowanie 174 Wybrana literatura 176 Rozdział 14. Badanie sensorowych atrybuty warstw C–Pd – Anna Kamińska, Sławomir Krawczyk 177 14.1. Metodyka pomiarów rezystancji warstw C–Pd 177 14.2. Stanowisko badawcze 180 14.3. Właściwości sensorowe warstw C–Pd 181 14.3.1. Wyznaczanie czułości warstw 182 14.3.2. Określanie granicy wykrywalności wodoru 184 14.3.3. Wyznaczanie czasu odpowiedzi na wodór 184 14.3.4. Określanie selektywności warstw 185 Wybrana literatura 188 Rozdział 15. Metody analizy mikroskopowych obrazów warstw C–Pd – Elżbieta Zając, Przemysław Spurek 189 15.1. Algorytm identyfikacji obiektów na obrazach SEM w trybie LABE 190 15.2. Metoda identyfikacji obiektów na obrazach SEM w trybie SE 193 15.3. Polepszanie wyników analiz przez zastosowanie filtrów 194 15.4. Operacje morfologiczne 194 15.5. Wykrywanie nakładających się obiektów o ustalonym profilu 195 15.6. Wykrywanie ścieżek przewodzenia 197 15.7. Funkcjonalność programów do analizy fotografii 198 Wybrana literatura 199 Rozdział 16. Modelowanie przepływu prądu w powłokach C–Pd – Włodzimierz Bielski, Adam Idzik, Piotr Kowalczyk 200 16.1. Homogenizacja 201 16.1.1. Równania dyfuzji 202 16.1.2. Metoda dwuskalowych rozwinięć asymptotycznych 202 16.1.3. Zadanie jednowymiarowe 204 16.2. Oszacowania dla stałych materiałowych 205 16.2.1. Oszacowania Voigta–Reussa 205 16.2.2. Metoda Miltona, Bergmana. Metoda ciągłych przedłużeń analitycznych 206 16.3. Makroskopowe równania ośrodka porowatego nasyconego gazem 207 16.3.1. Przepływ stacjonarny w ośrodku porowatym 207 16.3.2. Relacje makroskopowe 208 16.4. Obliczenia numeryczne 209 16.4.1. Model jednowymiarowy 209 16.4.2. Model dwuwymiarowy 211 Wybrana literatura-213 Rozdział 17. Modelowanie MES niektórych zjawisk fizycznych zachodzących w powłokach C–Pd – Joanna Rymarczyk 214 17.1. Metoda elementu skończonego (MES) 216 17.2. Wykorzystanie MES do modelowania atrybuty nanomechanicznych 217 17.3. Wykorzystanie MES do modelowania cieplnych cechy warstw C–Pd 221 17.4. Wykorzystanie MES do modelowania elektrycznych parametry warstw C–Pd 223 Wybrana literatura 225 Ważniejsze skróty i akronimy 227 Skorowidz 230 dane o autorach 234